Metromeet 2017, metrología 4.0 para la fabricación avanzada

Analizó el papel de la metrología dimensional en la industria digital

Toni Ventura, director general de Datapixel, y Maurizio Ercole, presidente de la Asociación Internacional de Fabricantes de Máquinas de Medición por Coordenadas, inauguraron Metromeet 2017.

La reciente 13ª edición de Metromeet permitió descubrir los retos, aplicaciones e influencia de la metrología en el futuro de la Industria 4.0. El objetivo de este año, continuando con lo hecho en otras ediciones, fue “situar la metrología dimensional dentro de la transformación industrial en la que estamos”, aseguró Toni Ventura, director general de Datapixel.
Durante tres días, del 22 al 24 de marzo pasados, Bilbao se convirtió en el centro internacional de la metrología, de la mano de Innovalia, organizador de la Conferencia Internacional en Metrología Industrial Dimensional, patrocinada por Innovalia Metrology, Renishaw, Faro y Zeiss.
Durante la inauguración de la Conferencia Toni Ventura y Maurizio Ercole, ‘padre’ de la metrología dimensional, compartieron y analizaron la importancia de la metrología en el camino hacia la Industria 4.0. Así, Toni Ventura destacó que “Metromeet nos ofrece la perspectiva de fabricantes, usuarios e investigadores en un mismo entorno”. Por su parte, Maurizio Ercole, ‘chairman oficial’ de Metromeet, compartió su visión sobre la importancia de la metrología en el panorama actual, además de los retos y éxitos de su trayectoria profesional.
Entre los ‘track’, ‘keynotes’ y tutoriales que desarrollaron cerca de una veintena de ponentes, se abordaron temas como el Big Data o el estándar QiF (Quality Information Framework) en la Industria 4.0, etc.

La Industria 4.0 requiere medir más,

hacerlo más rápido y hacerlo

con mayor definición

Contacto digital-físico
“La importancia de la metrología dimensional en el mundo de la industria digital reside en que en algún punto de los procesos tiene que haber un intercambio entre lo físico y lo numérico. Y ahí es donde la metrología dimensional juega un papel”, apuntó Ventura.
Es decir, en la actualidad “cada vez más se requiere medir más, hacerlo más rápido y hacerlo con mayor definición. Y lo que hemos visto aquí es que eso es necesario hacerlo tanto a gran escala, por ejemplo medir un fuselaje de un avión, como a escala nano, con la nanometrología”, señaló el director de Datapixel.
Durante la segunda jornada se pusieron sobre la mesa temas tan atractivos como la microscopia ultrarrápida y los requerimientos metrológicos del Instituto de Astrofísica de Canarias. Y la última jornada se centró en una exposición de las necesidades y aplicaciones de las soluciones más avanzadas de metrología para los sectores de la aeronáutica y el automóvil.
A través de Metromeet, Innovalia continúa demostrando su apuesta por el desarrollo tecnológico a la vez que su reconocimiento europeo como prescriptor de soluciones avanzadas en el campo del control de calidad y la mejora de procesos de fabricación.

Más noticias de Actividad empresarial / Enpresa jarduera