La Conferencia Internacional Metromeet celebró su X edición los días 27 y 28 de marzo en el Palacio Euskalduna de Bilbao, donde se dieron cita los representantes de empresas e instituciones más importantes del sector. Más de 100 profesionales asistieron a dos tutoriales, tres keynotes y 16 presentaciones.
Metromeet se inició con dos tutoriales de contenido eminentemente práctico: el primero, impartido por Ainhoa Etxebarri (Innovalia Metrology), estuvo centrado en la tecnología de escaneo 3D mediante sensores ópticos y las técnicas de digitalizado para obtener mejores resultados de estas tecnologías. El segundo, ‘Tolerancias dimensionales y geométricas’, de Mario Arias (Unimetrik), se dirigió a responsables en diseño y fabricación, e indudablemente a los responsables de metrología, para poder interpretar perfectamente los planos de piezas y sus características constructivas.
Tras la inauguración, tuvo lugar el primer keynote, con Toni Ventura-Traveset, acerca de la gestión de ‘big data’ para la fabricación inteligente. En la jornada de la tarde, el track 1 estuvo dedicado a las aplicaciones reales de la metrología, combinando dos presentaciones prácticas, relacionadas con casos reales de la industria del automóvil, con una presentación teórica que dio las claves de futuros pasos en el sector.
La segunda jornada se inició con el keynote de Jorge Collazos, director del Laboratorio de Reparación Neural y Biomateriales del Hospital Nacional de Parapléjicos de Toledo, acerca de microimplantes para el sistema nervioso. De forma paralela tuvieron lugar los tracks dedicados a la metrología óptica y al software metrológico.