Metromeet celebrará este año su X Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional, que tendrá lugar entre los días 27 y 28 del presente mes de marzo en el Palacio Euskalduna de Bilbao.
Metromeet representa un evento único y es la conferencia más importante en el sector de la metrología dimensional industrial, ya que solo existe esta ocasión durante el año para que se reúnan los profesionales del sector. Además, se muestra como una oportunidad perfecta para que las empresas formen parte de este evento único.
Durante Metromeet se ofrecerá información acerca de las últimas tecnologías, los progresos logrados en el sector y se constituirá un foro para debatir sobre metrología y su desarrollo en una industria que cambia a gran velocidad. Además, se harán públicas las últimas noticias acerca de nuevos desarrollos digitales y ópticos y las nuevas normas europeas e internacionales.

Tres ‘keynotes’
Metromeet contará con tres ponentes excepcionales para impartir los ‘keynotes’ del programa. La primera de estas clases magistrales, que servirá como inauguración de la conferencia, la impartirá Toni Ventura, de Datapixel, bajo el título ‘Manufacturing Intelligence: from big data to actionable information’. Bill Rippey, del NIST, se centrará en el nuevo standard QIF (Quality Information Framework); y, por último, Jorge Collazos, de Sescam, abordará una temática altamente innovadora: la fabricación de microestructuras para microimplantes en el sistema nervioso.
Metromeet está organizado por Innovalia Association, un laboratorio de investigación que sirve para abordar con éxito a largo plazo los objetivos de investigación estratégicos y ambiciosos del Grupo Innovalia. Tiene una importante presencia internacional, con delegaciones en España, Europa, Asia, Centroamérica y Sudamérica. Innovalia busca, a través de Metromeet, compartir su experiencia en la metrología y su pasión por la innovación desde 2005. Metromeet está asesorado por un comité técnico que evalúa las ponencias.