Después de que la conferencia Metromeet 2016 sentará las bases de lo que será un largo e inminente recorrido hasta la metrología 4.0, las perspectivas de su 13ª edición parecen no dejar indiferente a nadie. “Un año más, hemos conseguido aumentar la oferta expositiva y el programa de ponencias, con participantes de primer nivel, además del incremento en el número de visitantes, lo cual nos hace ser optimistas y nos anima a empezar a trabajar ya en la próxima edición”, ha señalado Jesús de la Maza, presidente del Grupo Innovalia, que es el organizador de la conferencia.
Bilbao fue testigo de la buena aceptación de este certamen y por ello Metromeet coge fuerzas de cara a la próxima edición e invita a todos los profesionales vinculados a la metrología industrial dimensional a compartir sus conocimientos y experiencias en la cita que tendrá lugar los días 22, 23 y 24 de marzo de 2017. La convocatoria de ponencias ya ha empezado y finalizará el próximo de día 9 de septiembre .
La presentación de una ponencia ofrece una excelente oportunidad para establecer contacto directo con directores y altos ejecutivos de empresas del sector metrológico. Además de ser un evento único, permite ampliar la red de negocios y entablar relaciones con posibles clientes, desde la posición privilegiada que supone ser reconocido como un experto en un área concreta o especialidad dentro de la metrología industrial dimensional.

El Comité Técnico Internacional de Metromeet valorará especialmente aquellas ponencias que versen sobre experiencias reales y métodos y tecnologías de aplicaciones innovadoras, con aplicabilidad real en la industria.
La conferencia ofrece tres posibilidades de cara a ser ponente: tutoriales o sesiones de dos horas en las que el conferenciante ofrecerá su punto de vista sobre tecnologías y herramientas; keynotes o charlas magistrales de 50 minutos; y finalmente sesiones de 25 minutos centradas en un tema concreto sobre Metrología Industrial Dimensional, acorde a las temáticas explicadas a continuación. Control de calidad, soluciones metrológicas para la industria, calibración y verificación, fabricación aditiva, avances en micro y nanometrología, futuras tendencias en I+D metrológico, últimos desarrollos y soluciones en el área de la medición óptica sin contacto y los sistemas de digitalización 3D, son algunas de las temáticas a tratar en Metromeet. “Como se vio en los tres días de congreso, la participación de profesionales de todas las ramas de la industria contribuyó a seguir haciendo del mismo un punto de encuentro entre ponentes, sponsors y asistentes”, concluyó Jesús de la Maza.