La reciente 14ª edición de Metromeet permitió descubrir los retos, aplicaciones e influencia de la metrología en el desarrollo de la industria 4.0. El objetivo de este año, continuando con lo abordado en otras ediciones, se centró en “situar la metrología dimensional dentro de la transformación industrial actual, avanzando hacia una fabricación cero defectos”, aseguró Toni Ventura, director general de Datapixel. “Metromeet permite que personas de distintos países, empresas y edades, miremos unidas hacia el futuro de la metrología”, añadió.
Durante tres días, del 21 al 23 de marzo, Bilbao se convirtió en el centro internacional de la metrología, de la mano de Innovalia, organizador de la Conferencia Internacional en Metrología Industrial Dimensional, patrocinada por Innovalia Metrology, Renishaw, Faro, Zeiss y Creaform.
En la inauguración de la conferencia, Maurizio Ercole, ‘padre’ de la metrología dimensional, y Jesús de la Maza, presidente del Grupo Innovalia, compartieron las directrices de Metromeet y los objetivos del encuentro. Por su parte, Toni Ventura, CEO de Datapixel, abrió la conferencia con un tutorial en el que avanzaba la utilidad y necesidades de la metrología en el camino hacia la fabricación de ‘cero defectos’, destacando la importancia de seleccionar y utilizar los ‘smart data’, los datos inteligentes, dentro de la pléyade de datos que ahora adquieren los innumerables sensores de las máquinas.
Entre los ‘track’, ‘keynotes’ y tutoriales que desarrollaron más de una veintena de ponentes, se abordaron temas como el ‘big data’, el estándar QiF (Quality Information Framework) en la industria 4.0, la medición híbrida, soluciones de software para impresión 3D, etc.

Una de las características de Metromeet es la combinación entre ponencias científico-técnicas y los ponentes de una empresa y que dan a conocer los resultados obtenidos. Así, por ejemplo, participaron representantes de General Electric, Innovalia, Creaform, Autodesk, Qisab, Capvidia, Tekniker, Novo Nordisk o Carlsberg.
Por su parte, Ainhoa Etxabarri, de Innovalia Metrology presentó la ponencia ‘Metrología y Mecanizado’ en la que además de presentar M3MH, un software único de medición que permite la conexión directa con el CNC, presentaba una nueva manera de medir, de producir y de optimizar los procesos industriales. El último día de Metromeet se cerró con una mesa redonda liderada por Toni Ventura, CEO de Datapixel; Jesús de la Maza, presidente del Grupo Innovalia; Maurizio Ercole, presidente de la Asociación Internacional de Fabricantes de Máquinas de Medición por Coordenadas, y Jean-Claude Morel, director general de Missler Software.