La cita anual en metrología dimensional industrial celebró su 20º aniversario los días 10, 11 y 12 de abril. Metromeet, la conferencia organizada por la Asociación Innovalia, reunió a destacados expertos internacionales que hablaron sobre tendencias, nuevos proyectos y aplicaciones de la metrología en distintos sectores y novedades en tecnologías de medición. 
“Discover. Connect. Meet”.  ‘Descubrir’ las implicaciones de la metrología dimensional industrial; ‘Conectar’ con otros ponentes, asistentes y empresas para futuras asociaciones y, ‘Reunir’ a trabajadores del sector y expertos de multinacionales y entidades destacadas, a los que Metromeet crea la oportunidad de conocerse en persona.
Intervenciones destacadas, tutoriales y keynotes
Metromeet ha reunido otro año más a expertos tanto nacionales como internacionales. 
Toni Ventura (Datapixel) fue el encargado de abrir la conferencia, con una charla sobre la automatización de la metrología, una gran oportunidad para la fabricación ágil y en la que destacó que ‘estamos al comienzo de una era de transformación e innovación en la fabricación y automatización inteligentes’. El Dr. Stephen Kyle (University College London) presentó una plataforma online para promover y desarrollar la medición 3D y la metrología 3D (3DM), un repositorio en el que se incluyen recursos de fabricantes de sistemas, proveedores y fuentes de investigación.  El profesor José Antonio Yagüe Fabra (Universidad de Zaragoza) hizo un repaso de sus intervenciones en Metromeet a lo largo de los años y dio un tutorial sobre la verificación de máquinas herramienta, explorando la necesidad de asegurar un rendimiento adecuado y preciso de las grandes máquinas que se usan para fabricar grandes piezas para sectores en los que cualquier mínimo fallo puede ser crítico en términos de seguridad. El Dr. Edward Morse (University of North Carolina at Charlotte) centró su presentación en la norma internacional ISO 10360-13, su adopción y uso en los sistemas de medición de coordenadas (CMS), en la que calculaba que ‘dentro de 5 años todos los sistemas tendrían este estándar aplicado’.
Otras intervenciones
Metromeet dividió las ponencias por temáticas, para así crear mayor asociación entre ellas.
El primer track fue el de ‘Transformación Digital’ en el que intervinieron el Dr. Dimitris Kyritsis (EPFL; Universidad de Oslo) para hablar de los ‘Gemelos Digitales Cognitivos’, sus características y escenarios – tanto presentes como futuros - en los que encontrarlos; y Claudio Turrin (SamSoftware) nos habló sobre un nuevo editor de ontologías digitales de fabricación que ofrece un modelado funcional del producto acabado, creando un impacto en todo el proceso.
Bajo la temática de ‘Calibración’, el Dr. Thomas Engel (Siemens AG) nos presentaba los certificados digitales de calibración y su rol en el ciclo de producción y, un caso de uso sobre las imágenes de visión dinámica. Destacó que ‘los espacios de datos son clave para validar los datos y para su privacidad’ y que ‘la visión dinámica es muy prometedora para las aplicaciones metrológicas’. La Dra. Adriana Valcu (Romanian Measurement Society) dio una charla sobre nuevos métodos adoptados para la determinación de errores e incertidumbres asociadas dentro del rango calibrado de un calibre digital.
En la parte de ‘Aplicaciones de Metrología Industrial’ Andrea Pelegrino (GEATOP srl) habló sobre la automatización de las cubiertas de los parques eólicos y cómo habían conseguido reducir el tiempo de montaje en un 75%, sin perder la calidad en ningún momento del proceso. El Dr. Octavio Icasio (CENAM) exploró las pruebas de rendimiento de un SLS, pruebas descritas en la directriz VDI/VDE 2634-2 y la norma ISO 10360-13.
Metromeet&Wine
La edición de este año ha recuperado además uno de sus días más especiales, Metromeet&Wine, celebrando el último día en las bodegas Eguren Ugarte en Laguardia. Una experiencia diferente sin lugar a dudas, disfrutando de las ponencias en un entorno más informal y cercano. 
Ainhoa Etxabarri (Innovalia Metrology) fue la primera ponente de Metromeet&Wine, abriendo el día con una presentación dentro del track de ’Aplicaciones de Metrología Industrial’ sobre “Optimización del mecanizado de piezas de fabricación aditiva mediante metrología avanzada (contacto y escaneo 3D) en centros de mecanizado de 5 ejes”. El Dr. Pablo Puerto (IDEKO) y la Dra. Samanta Piano (Universidad de Nottingham) fueron los encargados del track de ‘Soluciones y Automatización en la Metrología’. Pablo habló sobre el proyecto TACCO, dentro del área de la fotogrametría, destacando que es un proyecto pionero en el mercado que ayuda a incrementar la flexibilidad y productividad. En cuanto a Samanta, abordó la importancia que la metrología óptica tiene en sectores de rápido crecimiento como la automoción o la industria médica, un área que se ha convertido en una herramienta esencial para garantizar la calidad y precisión en la inspección de componentes complejos.
El último track fue el de ‘avances en estándares y análisis de incertidumbre’. El Dr. Alessandro Balsamo (INRIM) nos dio un pequeño tutorial sobre las diferencias entre los términos ‘calibración’, ‘verificación’ y ‘las incertidumbres en las pruebas’. Términos que no se usan correctamente en muchas ocasiones. Jesús Paredes (Tekniker) nos presentó su trabajo sobre microscopios confocales a través de estrategias basadas en el enfoque Montecarlo y a través del instrumento óptico, el microscopio SNEOX.
El cierre de las ponencias se realizó a través de una mesa redonda formada por Jesús de la Maza, Toni Ventura, Edward Morse y Dimitris Kyritsis en la que se resumió lo que se había discutido durante el evento, opiniones y comentarios sobre el mismo e ideas sobre lo que está por llegar a la metrología en los próximos años. Además, Toni fue el afortunado ganador de la txapela honorífica del certamen y, de una bufanda del Athletic Club Bilbao, que celebraba su victoria de la Copa del Rey después de 40 años.
La conferencia ha vuelto a cumplir su objetivo de servir para compartir conocimientos, experiencias y para debatir sobre las últimas tendencias y el futuro del mundo de la metrología y de la industria.